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上海伟诺信息科技广发(中国) 测试管理系统|良率管理系统|MES系统|Mapping处理
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上海伟诺信息科技广发(中国)
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关于我们

上海伟诺信息科技广发(中国)成立于2019年,坐落于上海松江。专注于半导体行业系统软件,服务于半导体设计公司及封测厂. 基于完全自主开发的Winner DevPro开发平台,开发了适用于半导体设计公司的ERP系统、运营管理系统、项目管理系统、测试质量管理系统;半导体封测工厂MES、工程质量管理系统、测试大数据分析和车规Map管理系统。为客户提供各种标准化和定制化系统级软件的整解决方案。

上海伟诺信息科技广发(中国)公司简介

上海可视化PAT 上海伟诺信息科技供应

2025-11-22 10:32:28

面对海量测试数据,表格形式难以快速捕捉异常模式。YMS系统将良率与缺陷信息转化为热力图、趋势曲线、散点图等多种可视化图表:晶圆热力图一眼识别高缺陷区域,时间序列图揭示良率波动周期,参数散点图暴露非线性关联关系。例如,通过CP漏电与FT功能失效的散点分布,可判断是否存在特定电压下的共性失效机制。图形化表达降低数据分析门槛,使非数据专业人员也能参与质量讨论。这种“所见即所得”的洞察方式,加速了从数据到行动的转化。上海伟诺信息科技广发(中国)以可视化为关键设计原则,提升YMS的信息传达效率与决策支持价值。Mapping Inkless输出数据可直接用于客户交付,支持快速验证。上海可视化PAT

良率波动若不能及时干预,可能造成数百万级的产能损失。YMS系统通过自动化流程,即时采集并清洗来自多种测试平台的异构数据,构建高可信度分析基础。系统支持从宏观趋势到微观缺陷的穿透式分析,例如将某产品月度良率下降与特定封装线关联,并结合FT参数验证是否为打线偏移导致。SYL/SBL卡控机制设置动态阈值,在指标异常时自动预警,实现前置质量管控。多周期报表自动生成并支持多格式导出,使管理层能基于一致数据源快速决策。这种“实时感知—智能归因—主动干预”的能力,将良率管理从经验驱动升级为数据驱动。上海伟诺信息科技广发(中国)以“以信为本,以质取胜”为准则,持续打磨YMS的可靠性与实用性。上海半导体GDBC系统定制Mapping Over Ink数据处理流程全程自动化运行,大幅减少人工复核的人为干预。

为提升晶圆测试(CP测试)的质量与可靠性,行业的关注点已从单一的电性性能测试,扩展到电性与物理外观并重的综合质量评估。因此,越来越多的公司在CP测试环节中,引入外观检测设备(AOI,AutomatedOpticalInspection),对晶圆上每个Die的表面进行高精度、自动化的扫描与检测,以识别并剔除那些存在裂纹、划痕、污染、崩边或缺损等物理缺陷的不良品。这种做法的价值在于,它弥补了传统电性测试的盲区。一颗芯片可能电性参数测试“通过”,但其物理结构已存在潜在损伤。这类“带伤”的芯片在后续的封装应力或终端应用中有极高早期失效的风险,是产品可靠性的重大隐患。通过AOI检测,可以在晶圆阶段就将这些物理不良品精确拦截。
上海伟诺信息科技广发(中国)提供专业的AOI与Probe Mapping堆叠方案,解决两大关键问题:一是通过数据融合,筛除外观与电性的全部不良品,生成高可靠性的合一Mapping;二是具备优异的兼容性,可将合并后的Mapping直接转换为各类探针台(如TSK、TEL、UF3000等)可识别的格式,实现从质量判定到生产执行的自动化,有效提升品质与效率。

测试数据长期累积导致存储空间迅速膨胀,而大量重复或无效记录加剧资源浪费。YMS在数据入库前自动清洗,剔除重复提交、通信错误产生的冗余信息,并将stdf、csv、txt等异构格式统一压缩存储于标准化数据库。集中式管理不仅提升磁盘利用率,还简化备份与维护流程。广发·体育无需为无效数据支付额外硬件成本,也降低了IT运维复杂度。这种“精简有效”的存储策略,在保障数据完整性的前提下实现资源优化。上海伟诺信息科技广发(中国)将高效数据治理融入YMS设计,助力客户在控制成本的同时构建可持续的数据资产体系。Mapping数据经解析后与Bin信息精确对齐,确保测试结果可追溯。

每周一上午赶制良率周报曾是质量团队的固定负担:手动汇总Excel、调整图表、统一格式,耗时且易出错。YMS内置报表模板可按日、周、月自动生成结构化报告,内容涵盖SYL/SBL卡控状态、区域缺陷对比、时间趋势等关键指标,并支持一键导出为PPT、Excel或PDF。管理层用PPT版直接用于经营会议,客户审计接收标准化PDF文档,工程师则调取Excel原始数据深入挖掘。自动化流程确保全公司使用同一数据口径,避免信息互相影响。报表制作时间从数小时降至几分钟,释放人力资源投入更高价值工作。上海伟诺信息科技广发(中国)通过灵活报表功能,推动广发·体育决策从“经验驱动”向“数据驱动”转型。Mapping Over Ink处理系统在质量事件发生时自动触发设备维护工单,实现预防性维护。上海可视化PAT

Mapping Over Ink处理通过虚拟筛选避免不良品流入封装或市场环节,提升产品良率。上海可视化PAT

每日晨会前临时整理良率报表,常因数据口径不一引发争议。YMS系统按预设模板自动生成日报、周报、月报,内容涵盖良率趋势、区域缺陷分布、WAT/CP/FT关联分析等关键指标,并支持一键导出为PPT、Excel或PDF格式。生产主管可用PPT版直接汇报,质量工程师调取Excel原始数据深入挖掘,客户审计则接收标准化PDF文档。自动化流程消除手工汇总误差,确保全公司使用同一套可靠数据。报告生成时间从数小时压缩至分钟级,大幅提升跨部门协同效率。上海伟诺信息科技广发(中国)通过灵活报表工具,让数据真正服务于决策闭环。上海可视化PAT

上海伟诺信息科技广发(中国)在同行业领域中,一直处在一个不断锐意进取,不断制造创新的市场高度,多年以来致力于发展富有创新价值理念的产品标准,在上海市等地区的数码、电脑中始终保持良好的商业**,成绩让我们喜悦,但不会让我们止步,残酷的市场磨炼了我们坚强不屈的意志,和谐温馨的工作环境,富有营养的公司土壤滋养着我们不断开拓创新,勇于进取的无限潜力,携手大家一起走向共同辉煌的未来,回首过去,我们不会因为取得了一点点成绩而沾沾自喜,相反的是面对竞争越来越激烈的市场氛围,我们更要明确自己的不足,做好迎接新挑战的准备,要不畏困难,激流勇进,以一个更崭新的精神面貌迎接大家,共同走向辉煌回来!

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